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光學(xué)測量>顯微 qFXx/FZ ."Q}2 任務(wù)/系統(tǒng)描述 Z '~Ie~ LnPG+< ^@f.~4P*I n;LjKE 亮點 (W
|;gQ {ObUJ3 t!\B6!Fo W>(w&k]%B 顯微鏡系統(tǒng)中對光柵進行完全矢量分析 ;r}yeISf 對復(fù)雜系統(tǒng)進行數(shù)秒內(nèi)的快速高性能分析 mo"1|Q& 在光線追跡以及物理光學(xué)建模間簡單切換 (,D:6(R7t zy`T!
$ 說明:光源 <>H^:iqn INY?@in ^s\T<; {uurLEe? 說明:透鏡系統(tǒng) S]Ye` rV}&G!V_t M9~6ry-_ ]]P@*4! 說明:樣品結(jié)構(gòu) 3F32 /_` N(%(B o
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