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摘要 k \qFWFR a] 7g\rg)
仿真技術的主要作用之一是提供一個平臺，以便在系統(tǒng)制造之前研究系統(tǒng)的性能，以便盡可能多地預防潛在的缺陷。雜散光是影響系統(tǒng)性能的最常見現(xiàn)象之一，雜散光可能有多個來源，其中包括系統(tǒng)中的內(nèi)部偽反射。在這個用例中，我們分析了高Na激光二極管準直透鏡系統(tǒng)中這種反射的存在，我們模擬了產(chǎn)生的鬼像對探測場的影響(由主準直光束的干涉引起的同心環(huán)圖案和由雜散光產(chǎn)生的二次發(fā)散)，并確定需要在透鏡系統(tǒng)的關鍵表面上涂上抗反射涂層。 [|YvVA :*&c'  Y#Q!mbp 9) ,|h 建模任務 Ynvf;qs ']>9 /r#  cfi lH"EK
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 ohq Thl aQ $sn<-l 系統(tǒng)光線追跡結果 I=#`8deH( R'`'q1=R  +|d]\WlJ .l_Nf9= 完美的減反射(AR)涂層 2/r8% Sq ]"HaE-`%  & nXE?-J #:0-t!<0C 有內(nèi)部反射 5v)bs\x6
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