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時間地點 O;McPw<&\:  
主辦單位：訊技光電科技（上海）有限公司 a}|<*!4zUQ  
蘇州黌論教育咨詢有限公司 ' S,g3  
授課時間：2023 年 6 月 5 日（一）-7 日（三）共 3 天 AM 9:00-PM 16:00 %[9ty`UE  
授課地點：上海市嘉定區(qū)南翔銀翔路 819 號中暨大廈 18 樓 1805 室 ,_w}\'?L  
課程講師：訊技光電高級工程師 f8qDmk5s  
課程費用：4800RMB(課程包含課程材料費、開票稅金、午餐費用) 9=/4}!.  
課程簡介 v*.iNA;&i  
雜光理論和雜光問題研究要從以下幾個方面探索：雜散光輻射理論，雜散光合格判定標 .0gfP4{1{  
準、系統(tǒng)雜光測試方法，雜光分析與軟件，BSDF 與測量數(shù)據(jù)，雜光抑制設計等。本課程介 7bRfkKD  
紹空間光學系統(tǒng)的雜散光來源，以及對紅外光學系統(tǒng)成像質量的影響，在簡化分析上，討論 C?]eFKS."  
了雜散光分析的物理模型，利用已有的光學系統(tǒng)模型討論了雜散光計算和分析方法。用具體 .3n\~Sn  
的模型說明雜散光分析和計算假設條件，為以后利用軟件進行雜散光分析打下基礎。RC 望 |;t{L^  
遠鏡系統(tǒng)，具體突出紅外熱輻射和冷反射計算，在以往的方法中我們通過計算點列圖來實現(xiàn)， vlZmmQeJm  
但存在諸多的缺陷，如環(huán)境與鏡筒溫度變化、計算量大等缺點，我們將從實際的積分公式出 `'EG7  
發(fā)進行該望遠鏡系統(tǒng)仿真。 9%3+\[s1  
課程大綱 V*(x@pF  
1. 雜散光介紹與術語 "AKr;|m  
1.1 雜散光路徑 YRf$?xa  
1.2 關鍵面和照明面 02%~HBS  
1.3 雜光內部和外部雜散光 uV@'898%5  
2. 基本輻射度量學-輻射 Fv$w:r]q6  
2.1 BSDF 及其散射模型 nR@mm j  
2.2 TIS 總散射概念2.3 PST(點源透射比) m^m=/'<+  
3. 雜散光分析中的光線追跡 ,,80nW9E  
3.1 FRED 軟件光線追跡介紹 ~&F|g2:  
3.2 構建雜散光模型 x5pu+-h  
 Lp@Al#X55  
定義光學和機械幾何 5M #',(X  
 jOGiT|A  
定義光學屬性 O0`ofFN  
3.3 光線追跡 1|ddG010  
 HrFbUK@@  
使用光線追跡來量化收斂速度 z[R dM#L  
 n@"<NKzh  
重點采樣 &2 *  
 "cly99
t  
反向光線追跡 !;[cJbqnh  
 jTV4iX  
控制光線 Ancestry 以增加收斂速度 g+Q
Ihur  
 Iw( wT_  
使用蒙特卡洛光線劈裂增加收斂速度 WS.g`%  
 #DJZ42  
使用 GPU 來進行追跡 UGgo;e  
 }2m>S6""A  
RAM 內存使用設置 P0OMu/
 
4.散射模型 t98S[Z(-%+  
4.1 來自表面粗糙的散射 p W5D!z  
 ?Ov~\[) F  
低頻、中頻、高頻  n6Uf>5  
 _nxu8g]  
RMS 粗糙度與 BSDF 的關系 ;1nXJ{jKw  
 Jc]66   
由 PSD 推導 BSDF 4tUt"N  
 ~!7x45(1#  
擬合 BSDF 測量數(shù)據(jù) 88[u^aC  
4.2 來自劃痕(光學損傷坑)的散射 yIngenr$  
4.3 來自顆粒污染的散射 3W#E$^G_v  
 4t/