雙光楔式掃描系統(tǒng)是一種共軸式折射元件的掃描方式。它利用雙光楔的共軸相對(duì)轉(zhuǎn)動(dòng)連續(xù)改變組合楔角大小，獲得系統(tǒng)光軸連續(xù)擺動(dòng)以實(shí)現(xiàn)系統(tǒng)掃描的一種掃描類型。該掃描方式由于利用折射的光楔元件，光楔楔角大小受一定限制，因此掃描范圍不宜過(guò)大。利用雙光楔掃描可以實(shí)現(xiàn)一維線性掃描，兩維平面掃描以及兩位圓周掃描。再利用系統(tǒng)軸向調(diào)焦，還可以實(shí)現(xiàn)三維立體掃描。當(dāng)然系統(tǒng)可以是物方掃描或是像方掃描均可。 ~=i9]%g ?
W\g u"g`u 在設(shè)計(jì)時(shí)，同樣在連續(xù)幾次選擇菜單后，在“系統(tǒng)基本數(shù)據(jù)”窗體內(nèi)選擇“雙光楔掃描方式”后會(huì)出現(xiàn)對(duì)應(yīng)窗體，在窗體上選擇掃描方式如“像方深度掃描”后，窗體形式如圖1。接著再在 “設(shè)計(jì)”菜單點(diǎn)擊“雙光楔掃描系統(tǒng)設(shè)計(jì)”出現(xiàn)右圖，利用圖中滾動(dòng)條即可進(jìn)行自動(dòng)設(shè)計(jì)。 KOVGwEj 設(shè)計(jì)完成后可做各種掃描仿真以及公差分析，幷給出公差分析曲線以確保設(shè)計(jì)的準(zhǔn)確性。 W #E-vi+l <zH24[ 圖1.雙光楔掃描型系統(tǒng)設(shè)計(jì)窗體 sF}T9 Ue
利用一對(duì)光楔（雙光楔）的繞光軸連續(xù)相對(duì)等速轉(zhuǎn)動(dòng)可以改變光軸偏轉(zhuǎn)方向，OCAD可以實(shí)現(xiàn)雙光楔系統(tǒng)的連續(xù)掃描。他與反射鏡掃描不同就在于他的可連續(xù)性，而且其掃描中心軸與其入射光軸保持一致，為此可以在雙光楔轉(zhuǎn)動(dòng)掃描的同時(shí)，利用光學(xué)系統(tǒng)整體或局部繞光軸轉(zhuǎn)動(dòng)實(shí)現(xiàn)系統(tǒng)圓錐式掃描。此外，在一個(gè)光學(xué)系統(tǒng)內(nèi)可以同時(shí)使用兩套雙光楔可以實(shí)現(xiàn)兩維平面掃描。 0 3kzS ]g Im
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1.雙光楔一維線性掃描系統(tǒng)設(shè)計(jì) $5T3JOFz
Qp~O!9ph 利用一對(duì)雙光楔的相對(duì)轉(zhuǎn)動(dòng)可以實(shí)現(xiàn)光學(xué)系統(tǒng)的一維掃描。在掃描過(guò)程中如果在像面上的像面尺寸不變可以對(duì)應(yīng)物方位置變化，形成在保持物方瞬時(shí)視場(chǎng)不變的前提下對(duì)物方目標(biāo)進(jìn)行掃描。反之如果保持物方畫面不變，可以實(shí)現(xiàn)在像方進(jìn)行像面掃描。 'ek7e.x|V 為實(shí)現(xiàn)雙光楔一維線性掃描系統(tǒng)自動(dòng)設(shè)計(jì)，可以在主窗口界面環(huán)境下利用“編輯”中的“系統(tǒng)基本數(shù)據(jù)”菜單窗體內(nèi)選擇“掃描系統(tǒng)”的“雙光楔掃描方式”出現(xiàn)設(shè)計(jì)窗體如圖1。 hl?G _%a 然后在此窗體內(nèi)選擇“物方掃描”或“像方掃描”，再選擇“線性掃描”。此時(shí)就可以在窗體內(nèi)填寫設(shè)計(jì)要求，比如物（像）方掃瞄視場(chǎng)（角度）、掃瞄視場(chǎng)（角度）公差要求、指定計(jì)算掃描數(shù)以及指定光楔角度單位（角度或角分），再就是要指定雙光楔在系統(tǒng)內(nèi)所在面序號(hào)。由于雙光楔有兩個(gè)光楔，每個(gè)光楔只有一個(gè)斜角面，因此在指定光楔面序號(hào)時(shí)要分別指定前后兩個(gè)斜角面的斜角面序號(hào)。當(dāng)然還可以給出光楔斜角面的斜角角度參考值及角度公差值。以上信息填寫完畢，點(diǎn)擊確定按鈕“√”程序會(huì)立即自動(dòng)計(jì)算出光楔的角度值完成設(shè)計(jì)。圖2就是這的設(shè)計(jì)滿足設(shè)計(jì)要求的系統(tǒng)結(jié)構(gòu)示意圖。圖3為雙光楔一維線性掃描系統(tǒng)像面誤差曲線圖供誤差分析參考。 Zo}wzY~x>I
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