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    [技術(shù)]光柵起偏器的參數(shù)優(yōu)化 [復(fù)制鏈接]

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    只看樓主 倒序閱讀 樓主  發(fā)表于: 2023-06-08

    案例315.01:光柵起偏器的參數(shù)優(yōu)化

    這個(gè)案例說明了對(duì)于一個(gè)用于VIS光起偏的亞波長(zhǎng)光柵的參數(shù)優(yōu)化過程。

    關(guān)鍵詞:參數(shù)優(yōu)化,光柵,起偏器,亞波長(zhǎng)

    所需工具箱:高級(jí)光柵工具箱

    相關(guān)案例:100.01,101.01

    相關(guān)教程和技術(shù)說明:Tutorial 101.01, TN.021

    建模任務(wù):

    平面波入射周期為200nm的鍍鉻線性矩形光柵,基底為融石英,產(chǎn)生TE模的起偏。

    優(yōu)化目標(biāo):

    —TE模偏振光的透過率最大化

    —TM模偏振光的透過率最小化

    優(yōu)化函數(shù)

    —最小化TE的透過率

    —最小化偏振度(要求>50:1)

      

    —使用力優(yōu)先級(jí)使TE透過率的均勻誤差最小化

    優(yōu)化的自由變量為:

    —縫寬:10—190mm

    —光柵深度:20—200nm

    優(yōu)化算法:

    —使用Parameter run 進(jìn)行一個(gè)全波長(zhǎng)的全局搜索使得TE透過率的最大值最小同時(shí)使得偏振對(duì)比度的最大值最低。全局搜索不是強(qiáng)制的,但是它幫助確定在幾個(gè)最大值和最小值之間確定優(yōu)化參數(shù)的起始點(diǎn)。

    —參數(shù)優(yōu)化使用下山簡(jiǎn)法(局部?jī)?yōu)化)和模擬退火法(全局優(yōu)化)。參數(shù)優(yōu)化使得找到在偏振對(duì)比度和TE透過率之間的一種平衡。

    光路流程圖和偏振分析器:

    偏振光柵的光路流程圖存儲(chǔ)在文件“Scenario_315.01_Optimization_of_Grating_Polarizer_01”中。

    對(duì)于給定的波長(zhǎng)范圍,偏振分析器被用來計(jì)算相關(guān)偏振方向的最大和最小值。并可以計(jì)算 和 的反射或透射的最大和最小值。像偏振對(duì)比度這樣高級(jí)的優(yōu)化函數(shù)也可以被計(jì)算出來。

    Parameter Run 的全局搜索:

    Parameter Run文件存儲(chǔ)在“Scenario_315.01_Optimization_of_Grating_Polarizer_02”中。

    Parameter Run 設(shè)置

    縫寬:10—19nm 步長(zhǎng)10nm;

    規(guī)劃深度:20——200nm 步長(zhǎng)10nm;

    使用掃描模塊進(jìn)行所有參數(shù)的整合研究。

    在自由參數(shù)模塊中選擇深度和縫寬。

    使用掃描模塊進(jìn)行參數(shù)聯(lián)合調(diào)查。

    優(yōu)化函數(shù)依據(jù)迭代次數(shù)進(jìn)行顯示:

    左圖顯示了最小化TE透過率,右圖顯示了最小化偏振對(duì)比度。

    TE透過率和偏振對(duì)比度對(duì)于不同參數(shù)設(shè)置已經(jīng)達(dá)到了最大化。

    參數(shù)構(gòu)成:

    縫寬50nm,規(guī)劃深度200nm;最小TE透過率72.7%;最小偏振對(duì)比度62;TE透過率均勻誤差7%;

      

    局部參數(shù)優(yōu)化:

    使用局部參數(shù)優(yōu)化的參數(shù)優(yōu)化文件存儲(chǔ)在“Scenario_315.01_Optimization_of_Grating_Polarizer_03”中。

    起始值為:縫寬:50nm,規(guī)劃深度200nm;

    參數(shù)和優(yōu)化函數(shù)被嚴(yán)格定義,以便在TE透過率,偏振對(duì)比度和TE透過率均勻誤差之間找到平衡。

      

    參數(shù)定義:

    規(guī)劃深度為20-200nm,權(quán)重1e20

    縫寬10—190nm權(quán)重1e20

    優(yōu)化函數(shù)定義:

    ——TE效率最小值被最大化(全波段)

    ——偏振對(duì)比度大于50(全波段)

    ——均勻誤差最小化,但對(duì)于通用優(yōu)化函數(shù)只具有較低影響。

    選擇下山簡(jiǎn)法進(jìn)行局部?jī)?yōu)化。

    左圖顯示了最小化TE透過率,右圖顯示了最小化偏振對(duì)比度。

       優(yōu)化好的光路流程圖存儲(chǔ)在“Scenario_315.01_Optimization_of_Grating_Polarizer_04”中。

    優(yōu)化過的參數(shù)為:

    縫寬:46nm;規(guī)劃深度200nm;最小化偏振對(duì)比度50;TE透過率的均勻誤差7%

    結(jié)論:

    偏振分析器允許評(píng)估偏振光柵的波長(zhǎng)和角獨(dú)立性。

    Parameter Run允許對(duì)參數(shù)空間進(jìn)行全局搜索找到局部參數(shù)優(yōu)化的合適起始點(diǎn)。

    最后使用下山簡(jiǎn)法進(jìn)行偏振光柵的局部參數(shù)優(yōu)化。

     
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