光學(xué)標(biāo)準(zhǔn)具用于各種應(yīng)用，例如在光譜學(xué)和激光諧振器領(lǐng)域。標(biāo)準(zhǔn)具的基本結(jié)構(gòu)僅僅包括一對(duì)平面平行的透明板，并可以形成一個(gè)眾所周知的Fabry-Pérot諧振器，它通常用于光譜和/或角度選擇。

VirtualLab Fusion的非序列場追跡技術(shù)能夠精確建模完全不同類型的標(biāo)準(zhǔn)具，無論是結(jié)合高反射膜層的平面或曲面。此外，物理-光學(xué)建模方法自動(dòng)包含矢量效應(yīng)，因此允許研究偏振效應(yīng)對(duì)干涉圖樣的影響。

作為一個(gè)典型的應(yīng)用，我們演示了用一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)具作為關(guān)鍵元件的光路來檢測鈉D線。

在VirtualLab Fusion中，建立了一套采用間隔硅標(biāo)準(zhǔn)具的光學(xué)測量系統(tǒng)來測量鈉D線。進(jìn)一步研究了實(shí)際膜層反射率的影響。

研究了具有平面和曲面的光學(xué)標(biāo)準(zhǔn)具。利用非序列場追跡技術(shù)，對(duì)相關(guān)干涉圖樣進(jìn)行了建模，并考慮了矢量效應(yīng)。