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摘要 j" wX7 vd7%#sHH& 眾所周知,在干涉儀中,條紋對(duì)比度可能取決于光源的相干性。例如,在配有一定帶寬源的邁克爾遜干涉儀中,干涉條紋對(duì)比度隨著兩臂之間的光程差的增加而減小。通過測(cè)量可移動(dòng)反射鏡在不同位置的干涉圖對(duì)比度,可以得出光源的相干長(zhǎng)度。典型的傅立葉變換光譜學(xué)通常是基于這類光學(xué)裝置。 ERxA79
'VA\dpa{J 6GVj13Nr 建模任務(wù) |k5uVhN 'G1~\CT .#n1p:}[ 非序列追跡 {l&6=z :x e/7
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