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    [技術(shù)]干涉條紋研究 [復(fù)制鏈接]

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    只看樓主 倒序閱讀 樓主  發(fā)表于: 2023-07-25
    干涉測(cè)量是用于精確測(cè)量中最廣泛應(yīng)用的技術(shù)之一。通過(guò)觀(guān)察和研究條紋圖案，可以判斷表面形狀質(zhì)量或關(guān)于光譜帶寬的儀表信息。利用VirtualLab Fusion中非序列場(chǎng)追跡技術(shù)，可以輕松地設(shè)置和分析光學(xué)干涉儀。在這里提出兩個(gè)經(jīng)典的基于邁克爾遜干涉儀的例子：一個(gè)高質(zhì)量相干激光光源，另一個(gè)寬帶白光光源。 \9dz&H  
     '?&B5C  
    基于激光的邁克爾遜干涉儀 s4\SX,  
     ,\.YJD>z  
    DR.3 J`?K  
    借助VirtualLab Fusion中非序列追跡技術(shù)建立了該邁克爾遜干涉儀，并展示了不同配置中的干涉條紋。 &. |;yt%v  
     j<. <S {  
    白光邁克爾遜干涉儀 !Ei Ze.K  
     WyKUvVi  
    |N phG|  
    模擬使用氙氣燈作為光源的邁克爾遜干涉儀，充分考慮了光源的光譜特性（有限的相干長(zhǎng)度）。 9+WY@du+  
     GE/IaLo  
     
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