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摘要 Th%w-19,8 YGChVROG~ 在干涉儀中,條紋的對(duì)比度可能取決于光源的相干特性。例如,在具有一定帶寬的光源的邁克爾遜干涉儀中,干涉條紋對(duì)比度隨光程差的不同而變化。通過測(cè)量可動(dòng)鏡不同位置的干涉圖對(duì)比度,可以得到光源的相干長(zhǎng)度。典型的傅里葉變換光譜通常基于這種類型的光路。 Om:Gun\% %1;Y`>
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