由于空間光環(huán)境的復(fù)雜性，抑制雜散光對(duì)保證空間相機(jī)成像性能尤其重要，該文針對(duì)寬光譜波段成像的空間探測(cè)相機(jī)光學(xué)系統(tǒng)進(jìn)行雜散光分析和抑制優(yōu)化設(shè)計(jì)。通過(guò)SOLIDWORKS和TracePro的無(wú)損式數(shù)據(jù)交互建立光機(jī)模型，并從光機(jī)材料的表面特性、機(jī)械結(jié)構(gòu)、鏡片透過(guò)率等多角度優(yōu)化雜散光模型，再利用朗伯體光源分別對(duì)正反向進(jìn)行光線(xiàn)追跡，然后結(jié)合光機(jī)模型的半剖圖對(duì)系統(tǒng)關(guān)鍵表面進(jìn)行重點(diǎn)取樣分析。
