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    [產(chǎn)品]受激發(fā)射損耗(STED)顯微鏡原理 [復(fù)制鏈接]

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    只看樓主 倒序閱讀 樓主  發(fā)表于: 2023-09-04
    摘要 LKtug>Me  
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    受激發(fā)射損耗(STED)顯微鏡描述了一種常用的技術(shù)，以實現(xiàn)在生物應(yīng)用的超分辨率。在這種方法中，兩束激光—一束正常，一束轉(zhuǎn)變成甜甜圈模式—被疊加到熒光樣品上。通過使用熒光過程的發(fā)射和損耗以及利用由此產(chǎn)生的飽和效應(yīng)，與通常的顯微鏡技術(shù)(例如，寬視場顯微鏡)相比，后反射光顯示出更高的分辨率。在本文檔中，介紹了這種設(shè)備的基本設(shè)置。為了模擬飽和效應(yīng)，在焦點區(qū)域采用等效孔徑。 Z i-)PK^  
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    任務(wù)說明                                                                           Uj!3H]d  
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    多重光源                                                                           d-%!.,F#W  
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    螺旋相位板                                                                           :r0?[#r?N,  
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    探測器插件                                                                           MCN}p i  
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    x5q5<-#  
    參數(shù)運行 _c*0Rr  
    ?yKW^,q+  
                                                                                 w_-v!s2  
    n W2[x;  
    為了實現(xiàn)焦點區(qū)域的z-掃描，可以執(zhí)行參數(shù)運行。使用此工具，用戶可以輕松改變整個光學(xué)系統(tǒng)的單個參數(shù)或一組參數(shù)。有關(guān)詳細信息，請參閱： g70B22!y  
     m9My  
    Usage of the Parameter Run Document YVy+1q[  
                                                                                     5a moK7  
    非時序建模 N*.JQvbnr  
    PprCz"  
                                                                               ZJev_mj  
    3nVdws  
    將通道配置模式切換設(shè)置為Manual Configuration后，用戶可以為系統(tǒng)中的每個表面指定為模擬打開哪些通道。運行模擬時，將對活動光路進行初步分析（通過所謂的Light Path Finder）。然后引擎將沿著這些光路將場追蹤到系統(tǒng)中存在的探測器。 \iFh-?(  
    ;q:.&dak1  
    Channel Setting for Non-Sequential Tracing 9I0}:J;7  
                                                                                     bYT,f.,5{  
    總結(jié) – 組件…           NFT&\6!o  
    <u\j 4<p  
                                                                     s53 Pw>f  
    #K1VPezN  
    o"F=3b~:n  
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    系統(tǒng)觀感 [d="94Ab  
    #T0uPK ;