|
掃描干涉測(cè)量是一種表面高度測(cè)量技術(shù)。通過(guò)利用白色光源的低相干性,只有當(dāng)路徑長(zhǎng)度差落在相干性長(zhǎng)度內(nèi)時(shí)才出現(xiàn)干涉圖案。因此,它能夠?qū)崿F(xiàn)非常精確的測(cè)量,這一特性在光學(xué)相干斷層掃描(OCT)的醫(yī)學(xué)成像中得到了利用,OCT正是利用了這一物理原理。VirtualLab Fusion在單個(gè)平臺(tái)上的各種可交互建模技術(shù)有助于對(duì)相干現(xiàn)象進(jìn)行高效建模。在這個(gè)例子中,構(gòu)造了一個(gè)帶有氙燈的邁克爾遜干涉儀,并用于測(cè)量具有平滑調(diào)制表面的樣品。 O8~U<'=* \If!5N zn;Hs]G ^O Xr: P 建模任務(wù) ^npS==Y]!. Iki+5 K(KP3Q 模擬與設(shè)置:?jiǎn)纹脚_(tái)交互操作 pMZf!&tM :Z]hI+7 建模技術(shù)的單平臺(tái)交互操作 3/IWO4?_ })Mv9~&S {G1aAM\Hz &G|jzXE 連接建模技術(shù):光源 xnuv4Z}]t p2c=;5|/Q ecqz@*d& O-!fOdX8_k 頻域方法 XvkI+c ;n7|.O]* |
|