本文將講述如何rayfile轉換為面光源，Rayfile光源文件包含有限數(shù)量的光線，表面光源有無限量的光線，這使得表面源對于使用逆模擬，得到清晰可視化仿真特別有用。 }wmn v  
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表面光源均勻地從幾何形狀表面的每個點發(fā)射光，這種簡單的方法可以在沒有指定光源的早期開發(fā)階段使用。 3`@alhD'  
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高階段的表面光源通過使用從rayfile文件光源獲取光信息，更準確的以模擬面光源代替rayfile光源，打破rayfile光源內(nèi)有限光線數(shù)對仿真的限制。 as\6XW$;Q  
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下面將在本文中介紹這種轉換方法: sjOyg!e  
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步驟1:用一個初步的模擬獲取rayfile(s)光源屬性。 neW_mu;~Z  
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步驟2:使用先前獲取的屬性文件再創(chuàng)建表面源。 G#.(%,  
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當然為了創(chuàng)建一個表面光源，需要4個元素，獲取這些元素數(shù)據(jù)，可以確保表面光源在近場和遠場的正確建模： !a&@y#x  
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Flux光通量：在數(shù)據(jù)表中查找，或通過初步模擬獲取。 :O:Rfmr~  
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Exitance：一般是常數(shù)，或通過初步模擬以輻照度探測器獲取XMP文件。 $x&@!/&|pv  
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Intensity：數(shù)學定義，或通過初步模擬用強度探測器獲取XMP文件。 O!+LM{> F  
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Spectrum：在數(shù)據(jù)表中查找，或通過初步模擬獲取。 yYmV^7G  
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步驟 'LZF^m _<<  
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步驟1:用一個初步的模擬獲取rayfile(s)屬性 tjZ.p.IlG  
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創(chuàng)建輻Irradiance照度探測器，在LED最后可見表面前面距離處(例如0.1 mm)創(chuàng)建一個輻照度探測器。 %1ofu,%  
=w HU*mK  
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對于可見波長，“type”應設置為photometric。 '| Enc"U  
Vx_lI #3  
對于UV/IR波長，“type”應設置為radiometric。 JpN]j`  
@ mm*S:Gt#  
|ubDudzp  
創(chuàng)建Intensity強度探測器，在與輻照度探測器相同的位置創(chuàng)建一個強度探測器。強度探測器“方向”應以90°為起始角的Conoscopic，要獲取波長信息以表現(xiàn)光源的打光顏色，“type”應設置為spetral。調(diào)整波長設置，以包括所需的波長范圍和采樣，更高分辨率的采樣將得到更準確的轉換。 D$g|f[l  
G1MuH%4  
4HlOv%8  
運行direct模擬，使用LED的rayfile光源和創(chuàng)建的兩個探測器運行直接模擬。模擬的最小光線數(shù)應該是rayfile文件中包含的光線數(shù)。 b#0y-bR  
)'8DK$.  
當然根據(jù)設計的復雜程度，可能需要大量的光線來精確模擬輸出，這樣就采用對每個rayfile光線文件重復利用，例如在每個芯片位置的rayfile光源重復三次，這樣以便減少rayfile光源對仿真光線數(shù)的限制。 0;z-I"N  
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步驟2:使用先前獲取的屬性創(chuàng)建表面光源。 dj*%^c
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e:H7ht:  
使用輻照度和強度結果作為輸入創(chuàng)建一個表面光源。這兩個輸出的XMP結果可以從“SPEOS output files”文件夾中抓取。 UF)rBAv(/  
4,L(  
1. Exitance ~S}>|q$  
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