本文將講述如何
rayfile轉(zhuǎn)換為面
光源,Rayfile光源文件包含有限數(shù)量的
光線,表
面光源有無(wú)限量的光線,這使得表面源對(duì)于使用逆
模擬,得到清晰可視化仿真特別有用。
Qgl5Jr. qK&h$;~*y 表面光源均勻地從幾何形狀表面的每個(gè)點(diǎn)發(fā)射光,這種簡(jiǎn)單的方法可以在沒(méi)有指定光源的早期開(kāi)發(fā)階段使用。
Qmj%otSg x\5\KGw16 高階段的表面光源通過(guò)使用從rayfile文件光源獲取光信息,更準(zhǔn)確的以模擬面光源代替rayfile光源,打破rayfile光源內(nèi)有限光線數(shù)對(duì)仿真的限制。
%nj{eT ov'C0e+o 下面將在本文中介紹這種轉(zhuǎn)換方法:
qB3=wFI ODPWFdRar 步驟1:用一個(gè)初步的模擬獲取rayfile(s)光源屬性。
(KphAA8 F2$?[1^f 步驟2:使用先前獲取的屬性文件再創(chuàng)建表面源。
j.29nJ J-~:W~Qx4N 當(dāng)然為了創(chuàng)建一個(gè)表面光源,需要4個(gè)元素,獲取這些元素?cái)?shù)據(jù),可以確保表面光源在近場(chǎng)和遠(yuǎn)場(chǎng)的正確建模:
iZ2nBiQ oMF[<Xf Flux光通量:在數(shù)據(jù)表中查找,或通過(guò)初步模擬獲取。
f,8PPJ:, -VZ?
c Exitance:一般是常數(shù),或通過(guò)初步模擬以輻照度探測(cè)器獲取XMP文件。
S~.%G)R jN sM&s, Intensity:數(shù)學(xué)定義,或通過(guò)初步模擬用強(qiáng)度探測(cè)器獲取XMP文件。
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[Q# Spectrum:在數(shù)據(jù)表中查找,或通過(guò)初步模擬獲取。
pt9fOih[ 6Vy4]jdT5 步驟
qUG)+~g` 3qwSm< 步驟1:用一個(gè)初步的模擬獲取rayfile(s)屬性
Zs}EGC~& Yq-7! 創(chuàng)建輻Irradiance照度探測(cè)器,在
LED最后可見(jiàn)表面前面距離處(例如0.1 mm)創(chuàng)建一個(gè)輻照度探測(cè)器。
m7,;Hr( OG2&=~hOz- lgh+\pj 對(duì)于可見(jiàn)
波長(zhǎng),“type”應(yīng)設(shè)置為photometric。
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1z@ 對(duì)于UV/IR波長(zhǎng),“type”應(yīng)設(shè)置為radiometric。
.Wvg{ S- @z7$1pl} `Bv, :i 創(chuàng)建Intensity強(qiáng)度探測(cè)器,在與輻照度探測(cè)器相同的位置創(chuàng)建一個(gè)強(qiáng)度探測(cè)器。強(qiáng)度探測(cè)器“方向”應(yīng)以90°為起始角的Conoscopic,要獲取波長(zhǎng)信息以表現(xiàn)光源的打光顏色,“type”應(yīng)設(shè)置為spetral。調(diào)整波長(zhǎng)設(shè)置,以包括所需的波長(zhǎng)范圍和采樣,更高分辨率的采樣將得到更準(zhǔn)確的轉(zhuǎn)換。
2)jf~!o)Z %jj\w> +&8'@v$ 運(yùn)行direct模擬,使用LED的rayfile光源和創(chuàng)建的兩個(gè)探測(cè)器運(yùn)行直接模擬。模擬的最小光線數(shù)應(yīng)該是rayfile文件中包含的光線數(shù)。
u#v];6N }y#aO 當(dāng)然根據(jù)設(shè)計(jì)的復(fù)雜程度,可能需要大量的光線來(lái)精確模擬輸出,這樣就采用對(duì)每個(gè)rayfile光線文件重復(fù)利用,例如在每個(gè)
芯片位置的rayfile光源重復(fù)三次,這樣以便減少rayfile光源對(duì)仿真光線數(shù)的限制。
(/3E,6gMk^ kaZ_ra;< 步驟2:使用先前獲取的屬性創(chuàng)建表面光源。
t[b@P<F >Gxh=**F 使用輻照度和強(qiáng)度結(jié)果作為輸入創(chuàng)建一個(gè)表面光源。這兩個(gè)輸出的XMP結(jié)果可以從“SPEOS output files”文件夾中抓取。
}n$I #G}\/ U&SgB[QHO 1. Exitance
;q%V)4 55vI^SSA 將variable設(shè)置為“True”,并選擇輻照度結(jié)果作為文件!霸c(diǎn)”和“X/Y方向”應(yīng)與原始仿真中的探測(cè)器設(shè)置相同。
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