TFV薄膜設(shè)計軟件是用于設(shè)計、分析和優(yōu)化光學(xué)薄膜層結(jié)構(gòu)的工具，通常被廣泛應(yīng)用于光學(xué)、電子、能源等領(lǐng)域，開發(fā)具有特定光學(xué)性能的材料和器件，如濾光片、反射鏡、透射鏡等。
s|7(VUPL {`Ekv/XWa 下面我們將列舉出它的特征和幾個重點功能。特征：
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