摘要 ZZkc)
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在干涉儀中，條紋的對(duì)比度可能取決于光源的相干特性。例如，在具有一定帶寬的光源的邁克爾遜干涉儀中，干涉條紋對(duì)比度隨光程差的不同而變化。通過(guò)測(cè)量可動(dòng)鏡不同位置的干涉圖對(duì)比度，可以得到光源的相干長(zhǎng)度。典型的傅里葉變換光譜通�；�于這種類型的光路。 :_HdOm  
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圖片:1-1Z505111A3359.png

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建模任務(wù) X^&--@l}T!  
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圖片:1-1Z505111G2295.png

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橫向干涉條紋——50 nm帶寬 M7Xn=jc  
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圖片:1-1Z505111I9147.png

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橫向干涉條紋——100 nm帶寬 M).CyY;bm  
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圖片:1-1Z505111KH46.png

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逐點(diǎn)測(cè)量 MR4k#{:w  
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圖片:1-1Z505111S15B.png

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VirtualLab概覽 Ht}?=ZzW  
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圖片:1-1Z505111U0605.png

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VirtualLab Fusion的工作流程 GHi'ek