在過去的幾十年里，光電器件的集成化、小型化已經(jīng)成為現(xiàn)代光子學發(fā)展的主要驅(qū)動力。為了更精確地認知集成光子回路中超短光脈沖的產(chǎn)生、傳輸、相互作用和動態(tài)演變，開發(fā)一種可實時、原位、全參量表征的超快光脈沖片上表征技術顯得尤為重要。傳統(tǒng)的超快脈沖測量技術，如頻域分辨光學開關(FROG)技術，無法直接集成到片上光子芯片中，而需要將信號提取出來并利用塊狀的非線性光學晶體測量相關信息。顯然，信號提取的過程將會帶來不可避免的光脈沖信息失真，且無法了解光脈沖在光子回路中的動態(tài)演變信息。