物體幾何量的測(cè)量方法和儀器詳解 m%Ah]x;  
在現(xiàn)代科技的發(fā)展中，幾何量測(cè)量已經(jīng)成為許多工程領(lǐng)域的重要部分。通過(guò)準(zhǔn)確測(cè)量物體的形狀、尺寸等幾何屬性，可以為產(chǎn)品設(shè)計(jì)、機(jī)械加工、工程測(cè)量等提供重要的依據(jù)。如何進(jìn)行幾何量測(cè)量以及如何選擇合適的儀器？ a[;TUc^I1F  
幾何量測(cè)量主要涉及到長(zhǎng)度、角度、形狀等幾個(gè)方面，其中長(zhǎng)度測(cè)量是基本的一種。長(zhǎng)度測(cè)量的基本原理是利用測(cè)量?jī)x器的刻度尺或測(cè)量傳感器，通過(guò)對(duì)物體兩個(gè)端點(diǎn)之間的距離進(jìn)行測(cè)量，從而確定物體的長(zhǎng)度。而角度測(cè)量則是通過(guò)測(cè)量物體之間的夾角來(lái)確定物體的角度。形狀測(cè)量則是通過(guò)測(cè)量物體表面的曲率、彎曲程度等指標(biāo)，來(lái)描述物體的形狀特征。 RN(>37B
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傳統(tǒng)的幾何量測(cè)量?jī)x器包括千分尺、角度尺、游標(biāo)卡尺等，這些儀器能夠滿足一般的幾何量測(cè)量需求。但是隨著科技的發(fā)展，越來(lái)越多高精度測(cè)量?jī)x器被應(yīng)用于幾何量測(cè)量領(lǐng)域。從納米級(jí)光學(xué)3D表面輪廓儀通過(guò)光學(xué)原理測(cè)量物體的三維形狀，到百米級(jí)激光跟蹤儀高精度（μm級(jí)）、大工作空間（百米級(jí)）的坐標(biāo)和空間姿態(tài)測(cè)量，大大提高了幾何量測(cè)量的精度和效率： $Fx:w  
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1、光學(xué)3D表面輪廓儀 "L'
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SuperViewW系列光學(xué)3D表面輪廓儀基于白光干涉原理，以3D非接觸方式，測(cè)量分析樣品表面形貌的關(guān)鍵參數(shù)和尺寸，從0.1nm級(jí)別的超光滑表面到數(shù)十微米級(jí)別的粗糙度表面，儀器均能實(shí)現(xiàn)高精度測(cè)量。 VPG+]>*  

圖片:圖片1.jpg

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2、三坐標(biāo)測(cè)量機(jī) }}Gz3>?24=  
MarsClassic系列三坐標(biāo)是國(guó)產(chǎn)三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)，控制器、測(cè)頭測(cè)座、軟件全自主研發(fā)，安全可控。最大允許示值誤差（1.5+L/350）μm，測(cè)量行程從500mmx700mmx500mm延伸到800mmx1000mmx600mm，提供了豐富的計(jì)量解決方案。 nA:\G":\y  

圖片:圖片2.jpg

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3、粗糙度輪廓儀 =WFn+#&^  
SJ57系列粗糙度輪廓儀一體機(jī)一次測(cè)量同時(shí)評(píng)定輪廓和粗糙度參數(shù)。SJ5730具有12mm~24mm的大量程粗糙度測(cè)量范圍，分辨率高達(dá)0.1nm，系統(tǒng)殘差小于3nm。納米級(jí)大量程粗糙度測(cè)量，高精度、高穩(wěn)定性、高重復(fù)性特點(diǎn)，是大曲面測(cè)量（軸承、人工關(guān)節(jié)、精密模具、齒輪、葉片、軸承滾子）領(lǐng)域精細(xì)粗糙度測(cè)量的利器。 Ig9yd S-.  

圖片:圖片3.jpg

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