簡(jiǎn)介 _ Bm/v^( 6<jh0=$ FRED能夠提供用戶有關(guān)通過(guò)光機(jī)
系統(tǒng)任意
鬼像和散射路徑的詳細(xì)情況。我們簡(jiǎn)單地設(shè)置
光學(xué)和機(jī)械的物理屬性 (涂層、
材料、散射模型等)，設(shè)置一個(gè)合適的
光源，并且讓FRED記錄下在
光線追跡時(shí)系統(tǒng)所有唯一的路徑。當(dāng)光線追跡完成時(shí)，我們可以對(duì)光線追跡的路徑進(jìn)行后期處理，來(lái)提取出與我們系統(tǒng)相關(guān)的路徑。
k0~mK7k d%VG@./xq 然而，假設(shè)我們對(duì)于表征一個(gè)
光學(xué)系統(tǒng)中的初級(jí)鬼像路徑很感興趣，或者我們的系統(tǒng)沒(méi)有完全的開(kāi)發(fā)或改進(jìn)，來(lái)保證一個(gè)長(zhǎng)的多階次的雜散光分析。本文介紹了一個(gè)腳本，可以在一個(gè)導(dǎo)入的序列設(shè)計(jì)中對(duì)初級(jí)鬼像路徑進(jìn)行自動(dòng)分析。我們首先來(lái)討論合理地設(shè)置分析中導(dǎo)入的序列文件的過(guò)程，然后討論腳本的運(yùn)行以及執(zhí)行分析的過(guò)程。
Nv}'"V> M>^Ho2 指定表面涂層性質(zhì) Q= IA|rN >fRI^Q , 分析的要點(diǎn)是找出多少功率(以及功率的分布)到達(dá)了我們的焦平面，這是由在我們的
透鏡表面之間的鏡面系列的現(xiàn)象產(chǎn)生的，這些都不是“設(shè)計(jì)”路徑。舉個(gè)例子，我們第一個(gè)透鏡元件內(nèi)的內(nèi)部反彈可能會(huì)到達(dá)探測(cè)器，我們希望可以量化它的貢獻(xiàn)。
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