簡(jiǎn)介 JSq3)o9?/ $M,Q"QL FRED能夠提供用戶有關(guān)通過(guò)光機(jī)
系統(tǒng)任意
鬼像和散射路徑的詳細(xì)情況。我們簡(jiǎn)單地設(shè)置
光學(xué)和機(jī)械的物理屬性 (涂層、
材料、散射模型等),設(shè)置一個(gè)合適的
光源,并且讓FRED記錄下在
光線追跡時(shí)系統(tǒng)所有唯一的路徑。當(dāng)光線追跡完成時(shí),我們可以對(duì)光線追跡的路徑進(jìn)行后期處理,來(lái)提取出與我們系統(tǒng)相關(guān)的路徑。
~T9QpL1OJ 9I5AYa? 然而,假設(shè)我們對(duì)于表征一個(gè)
光學(xué)系統(tǒng)中的初級(jí)鬼像路徑很感興趣,或者我們的系統(tǒng)沒(méi)有完全的開(kāi)發(fā)或改進(jìn),來(lái)保證一個(gè)長(zhǎng)的多階次的雜散光分析。本文介紹了一個(gè)腳本,可以在一個(gè)導(dǎo)入的序列設(shè)計(jì)中對(duì)初級(jí)鬼像路徑進(jìn)行自動(dòng)分析。我們首先來(lái)討論合理地設(shè)置分析中導(dǎo)入的序列文件的過(guò)程,然后討論腳本的運(yùn)行以及執(zhí)行分析的過(guò)程。
>^W6'Q$P< ON{a'H 指定表面涂層性質(zhì) g;q.vHvsc" 4a!%eBhX"K 分析的要點(diǎn)是找出多少功率(以及功率的分布)到達(dá)了我們的焦平面,這是由在我們的
透鏡表面之間的鏡面系列的現(xiàn)象產(chǎn)生的,這些都不是“設(shè)計(jì)”路徑。舉個(gè)例子,我們第一個(gè)透鏡元件內(nèi)的內(nèi)部反彈可能會(huì)到達(dá)探測(cè)器,我們希望可以量化它的貢獻(xiàn)。
,QA=)~;D $\k)Y(& 為了產(chǎn)生鬼像路徑,我們的透鏡需要有涂層覆蓋,這可以讓入射能量的一些部分以反射和透射的方式傳播。默認(rèn)情況下,導(dǎo)入的透鏡表面具有100%透射涂層,將沒(méi)有任何鬼像產(chǎn)生。我們可以瀏覽透鏡的每一個(gè)光學(xué)表面,然后給每個(gè)表面應(yīng)用一個(gè)非理想的涂層模型,不過(guò)FRED確實(shí)提供了一個(gè)界面,使得這一過(guò)程變得不那么單調(diào)乏味。點(diǎn)擊Menu > Edit > Edit/View Multiple Surfaces,該界面提供了一個(gè)技巧,可以非常簡(jiǎn)單的完成多表面性質(zhì)賦予作業(yè)。