近日，據(jù)國家知識產(chǎn)權(quán)局公告，深圳中科飛測科技股份有限公司申請一項名為“光學(xué)檢測系統(tǒng)”發(fā)明專利，申請公布號CN117433427A，申請日期為2023-07-21。

專利摘要顯示，本發(fā)明實施例提供的一種光學(xué)檢測系統(tǒng)，包括：光源、調(diào)整模塊、第一檢測模塊、第二檢測模塊和采集模塊。所述光源用于產(chǎn)生或引入測量用光。所述調(diào)整模塊用于調(diào)整光線。所述第一檢測模塊和所述第二檢測模塊用于對光線進行擴束整形。并且第二檢測模塊的擴束整形能力強于所述第一檢測模塊的擴束整形能力。所述采集模塊可以采集光學(xué)數(shù)據(jù)。本發(fā)明實施例具有測量精度高、倍率調(diào)節(jié)區(qū)間大的特點。

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