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    [技術]FRED應用:TMT MOBIE成像光譜儀的概念設計階段雜散光分析 [復制鏈接]

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    只看樓主 倒序閱讀 樓主  發(fā)表于: 2024-02-26
    關鍵詞: 成像光譜儀
    簡介 mc$c!Ax*  
    三十米望遠鏡(Thirty Meter Telescope, TMT)是由美國加州大學、加州理工學院、加拿大大學天文研究聯(lián)盟、日本國立天文臺、中國國家天文臺以及印度科技部聯(lián)合參與的21 世紀地基巨型光學-紅外天文觀測設備。TMT的30米口徑的集光面積是當前主流10米級大望遠鏡的十倍,空間分辨率則比哈勃空間望遠鏡(HST)提高一個量級,它將把望遠鏡靈敏度和空間分辨率等技術指標提高到前所未有的程度,其強大的洞察宇宙的能力必將引發(fā)天文學研究的飛躍發(fā)展,更清楚地揭示宇宙起源及其物質(zhì)組成、暗物質(zhì)和暗能量的本質(zhì)、地外生命與文明的存在等最重要的自然科學圖景。本文以MOBIE為背景,使用FRED軟件對其雜散光部分進行了預評估。 7_Q86o  
    uN\9c Q  
    緒論 *,n7&  
    寬視場光學光譜(MOBIE)是視覺受限的光學光譜儀,它是為第一代Thirty Meter &gEu%s^wR  
    Telescope (TMT)儀器而設計的。目前MOBIE儀器處于概念設計階段。本文記錄了成像模塊配置中雜散光分析的進展。在項目的這一階段雜散光分析的目標是提供預期的雜散光背景的基線評估。為此,我們完成了四個量的雜散光計算: UU ,)z  
     關鍵物體的識別 z!L0j +  
     預估雜散光背景 "+ Qh,fTt  
     離軸抑制特性 Xs`:XATb/  
     鬼像的形成 f@/qW!o  
    bL[PNUG  
    分析基于一個完整的系統(tǒng)模型(盡管簡化過)的端到端光線追跡,包括帽型圓頂、望遠鏡光學器件、支撐結(jié)構(gòu)、MOBIE儀器光學器件和外殼。 R&alq  
    <s7{6n')  
    25 ~$qY_  
    圖1.完整的TMT-MOBIE雜散光分析模型
    1)PR]s:-m@  
    TMT-MOBIE幾何模型 z~Pmh%b  
    端到端系統(tǒng)模型如圖2所示(隱藏了圓頂壁)。MOBIE儀器的成像模塊配置如圖3所示。一對大氣色散校正(ADC)棱鏡剛好位于視場光闌孔徑的前面。視場光闌是一個彎曲的掩膜,與TMT焦面的曲率相匹配,且傳輸5.4±2.1弧分×±4.8弧分的矩形視場。視場光闌是儀器內(nèi)部主要的雜散光控制機構(gòu)。反射瞄準儀(MC-1)沿著視場光闌。二色分束鏡透射和反射光線到紅色和藍色鏡頭部件中。隨后折疊到折射式照相機裝置中。 B]qh22Yib  
    7kwG_0QO  
    圖2.圓頂內(nèi)部 簡化的模型只包含可能被MOBIE儀器看到的元件
    BA>0 +  
    圖3.MOBIE儀器模型
    lb6s3b  
    表面屬性指定 G[^G~U\+!  
    反射鏡表面具有一層鋁涂層,平均反射率在90%。透鏡表面具有一個理想的抗反射涂層,在每個面上反射1%的入射通量。光學表面被分配了兩個散射函數(shù)。Harvey2 BSDF模擬了由RMS微粗糙3導致的散射。米散射模型使用一個IEST-STD-1246D顆粒尺寸分布函數(shù)來模擬由微粒污染4,5導致的散射。非光學表面的處理從黑漆到光滑的白色而有所不同。 :<v$vER,&  
    \rN_CBM  
    分析結(jié)果 h1gb&?w5P  
    關鍵/照明物分析表明從視場外部進來的光線沒有直接的路徑到達攝像頭。攝像頭捕捉到在M2和M3附近的望遠鏡支撐結(jié)構(gòu)、立面軸承和圓頂?shù)装濉K羞@些物體由外部光源照明,光線從圓頂?shù)捻敳炕蛘吲帕性趫A頂壁的通風口進入。 +8Px` v1L  
    M!jW=^\  
    黑色圓頂內(nèi)部,到達藍色攝像頭探測器平面的雜散光占整個光通量的4%。藍色攝像頭捕捉到來自二色分束鏡的強烈的紅色鬼像反射。忽略這一貢獻,背景減小為3.2%。散射光背景占2.8%。對于紅色攝像頭,在相同的條件下,到達探測器平面的雜散光占據(jù)整個光通量的3.7%。散射光背景是總的光通量的3.3%。大部分貢獻來自于觀察的傳感器視場內(nèi)的光源。白色圓頂內(nèi)部在兩個成像路徑上增加了0.3%到散射光背景中。 aw4+1.xy  
    .>nd@oU  
    /g9{zR [  
    圖4.PST分析結(jié)果(藍色-上;紅色-下)
    h9-Ky@X`  
    圖4分別顯示藍色和紅色攝像頭PST曲線的對數(shù)間隔圖。PST分析提供了一種方法來量化望遠鏡和儀器的視場之外的抑制特性。圖上的注解表明在顯示的角度范圍內(nèi)對雜散光背景最顯著的貢獻者。需要注意的最重要的特征是,儀器視場外沒有直接鏡像路徑到達攝像頭,對于儀器視場外部的物體來說,來自望遠鏡光學器件和圓頂?shù)纳⑸湔紦?jù)了幾乎所有的雜散光背景。 J-ZM1HoB  
    =dw1Q  
    圖5顯示了來自位于視場內(nèi)部光源方向的攝像頭傳感器平面的對數(shù)間隔鬼像輻照度圖。ADC棱鏡在主圖的上部和下部產(chǎn)生了圖像偽影。藍色攝像頭從二色分束鏡捕捉了一個強烈的紅色反射,覆蓋到了直接成像上去。 z0UO<Y?9  
    eJA{]^Zf  
    [;2:lbPx  
    圖5.鬼像輻照度(藍色-上;紅色-下)
    ii2Z }qe  
    總結(jié) jlP7'xt1%  
    TMT/MOBIE儀器成像模型配置的一個初步雜散光分析已經(jīng)完成。包括圓頂、望遠鏡和儀器的核心部件的復雜光機模型已經(jīng)構(gòu)建。分析表明,雜散光背景由光學表面貢獻主導,特別是來自于儀器視場內(nèi)的光源。圓頂內(nèi)部結(jié)構(gòu)對雜散光背景的貢獻在一個相對比較低的水平。 +UsR  
    PmY:sJ{M  
    光譜操作模型類似地雜散光分析也已經(jīng)著手開始。 hpyre B  
     0EB'!  
    致謝