據(jù)國家知識產(chǎn)權(quán)局公告，正業(yè)科技取得一項名為“一種X射線無損檢測光學成像系統(tǒng)及檢測設備”，授權(quán)公告號CN220525686U，申請日期為2023年3月。

專利摘要顯示，本實用新型涉及X射線檢測的技術領域，公開了一種X射線無損檢測光學成像系統(tǒng)及檢測設備。所述X射線無損檢測光學成像系統(tǒng)包括一個X射線源及多個探測器；所述X射線源用于發(fā)射X射線，所述X射線向遠離所述X射線源的方向逐漸向外錐形發(fā)散；多個所述探測器均布置于所述X射線覆蓋的范圍內(nèi)，多個所述探測器與所述待檢測物體上的多個待檢測位置為一一對應的關系，各所述探測器與所述X射線源的連線經(jīng)過所述待檢測物體上對應的一個待檢測位置，所述探測器用于接收所述X射線并將光信號轉(zhuǎn)化為電子信號。本申請主要解決現(xiàn)有的X射線檢測設備在提高檢測效率時存在成本較高的技術問題。

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