從中國科學(xué)技術(shù)大學(xué)獲悉，該校物理學(xué)院張斗國教授課題組，提出并實(shí)現(xiàn)了一種基于矢量光場調(diào)控原理的動量空間偏振濾波器件。該濾波器件安裝于傳統(tǒng)無標(biāo)記光學(xué)顯微鏡后，可采集到單個納米尺度物體的高對比度、高信噪比光學(xué)顯微圖像。研究成果日前在線發(fā)表于綜合性學(xué)術(shù)期刊《美國國家科學(xué)院院刊》。

單個納米尺度物體精準(zhǔn)表征，在基礎(chǔ)科學(xué)研究與工業(yè)應(yīng)用方面均具有重要意義。但得到廣泛應(yīng)用的無標(biāo)記光學(xué)顯微成像技術(shù)，難以對單個納米尺度物體進(jìn)行高對比度、高信噪比成像，更難以實(shí)時記錄其演化過程和運(yùn)動軌跡。

為了解決這個問題，張斗國課題組設(shè)計并實(shí)現(xiàn)了一種動量空間偏振濾波器件，它可在動量空間進(jìn)行矢量場偏振調(diào)控，大幅度過濾、抑制各類背景噪聲。只有單個納米尺度物體的光散射信號能透過該濾波器件，被探測器采集到，從而實(shí)現(xiàn)了單個納米尺度物體的高對比度、高信噪比的成像探測。

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