摘要
H575W"53 /_qq(,3 掃描
干涉儀是用于執(zhí)行表面高度測(cè)量的技術(shù)。 通過利用白光
光源的低相干性,僅當(dāng)光程長度差在相干長度內(nèi)時(shí)才會(huì)出現(xiàn)干涉圖樣。 因此,它可以實(shí)現(xiàn)精確的
顯微鏡測(cè)量。在本案例中,氙氣燈和邁克爾遜干涉儀被構(gòu)建并用于測(cè)量表面平滑變化的樣品。
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kx;X:I(5&P ~k?rP}>0 建模任務(wù)
S"h;u=5it ct3i^,i /\/^= j 仿真干涉條紋
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</P_:4G fI)XV7,X 走進(jìn)VirtualLab Fusion
hI86WP9* }MRgNr'k +QFKaS<sn hc|A:v)] VirtualLab Fusion中的工作流程
~{Iw[,MJ &IUA[{o~e •設(shè)置輸入場(chǎng)
=IMmtOvJ −基本光源
模型[教程視頻]
|:R\j0t •使用導(dǎo)入的數(shù)據(jù)自定義表面輪廓
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•定義元件的位置和方向
k2D*`\
D − LPD II:位置和方向[教程視頻]
.Od:#(aq •正確設(shè)置通道以進(jìn)行非
序列追跡
{S=<(A@ −非序列追跡的通道設(shè)置[用例]
F+H]{ss> •使用
參數(shù)運(yùn)行檢查影響/變化
^@V*:n^ −參數(shù)運(yùn)行文檔的使用[用例]
0vqH-)} 9A.NM+u7 *LB-V%{|' arm_SyL0 VirtualLab Fusion技術(shù)
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