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[技術]全場光學相干掃描干涉儀 [復制鏈接]

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摘要

掃描干涉儀是用于執(zhí)行表面高度測量的技術。通過利用白光光源的低相干性，僅當光程長度差在相干長度內時才會出現干涉圖樣。因此，它可以實現精確的顯微鏡測量。在本案例中，氙氣燈和邁克爾遜干涉儀被構建并用于測量表面平滑變化的樣品。