摘要
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jI 掃描
干涉儀是用于執(zhí)行表面高度測(cè)量的技術(shù)。 通過(guò)利用白光
光源的低相干性,僅當(dāng)光程長(zhǎng)度差在相干長(zhǎng)度內(nèi)時(shí)才會(huì)出現(xiàn)干涉圖樣。 因此,它可以實(shí)現(xiàn)精確的
顯微鏡測(cè)量。在本案例中,氙氣燈和邁克爾遜干涉儀被構(gòu)建并用于測(cè)量表面平滑變化的樣品。
Bx(+uNQ ?$O5w* WY@x2bBi S}"?#=Q.%O 建模任務(wù)
E(G=~>P tVx.J'"Y o3H+.u$ 仿真干涉條紋
uCK!lq- UI~ENG lY}mrb 走進(jìn)VirtualLab Fusion
PVO9KWv** YQR*?/?a ";~}"Yz?[ wAHb5>! VirtualLab Fusion中的工作流程
#SY8Zv x7e •設(shè)置輸入場(chǎng)
oWyg/{M −基本光源
模型[教程視頻]
b*Ipg8n+ •使用導(dǎo)入的數(shù)據(jù)自定義表面輪廓
,IUMH]D •定義元件的位置和方向
w8%yX$< − LPD II:位置和方向[教程視頻]
o*n""m •正確設(shè)置通道以進(jìn)行非
序列追跡
rOY^w9! −非序列追跡的通道設(shè)置[用例]
hk ./G'E •使用
參數(shù)運(yùn)行檢查影響/變化
9BANCW" −參數(shù)運(yùn)行文檔的使用[用例]
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tSC UO"8 I2rB VirtualLab Fusion技術(shù)
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