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    [技術(shù)]高NA物鏡聚焦的分析 [復(fù)制鏈接]

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    只看樓主 倒序閱讀 樓主  發(fā)表于: 08-20
    摘要 1hW"#>f7  
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    高NA物鏡廣泛用于光學(xué)光刻,顯微鏡等。因此,在聚焦仿真中最基本的就是考慮光的矢量性質(zhì)。 使用VirtualLab對(duì)這種鏡頭進(jìn)行光線追跡和場(chǎng)追跡分析非常方便。通過(guò)場(chǎng)追跡,可以清楚地展示不對(duì)稱焦斑,這源于矢量效應(yīng)。相機(jī)探測(cè)器和電磁場(chǎng)探測(cè)器為聚焦區(qū)域的研究提供了充分的靈活性,可以讓用戶深入了解矢量效應(yīng)。 I3d!!L2ma  
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    o>Q=V 0?  
    建模任務(wù) EJ=ud9  
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    agj_l}=gO  
    概觀 #T$yQ;eQ  
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    光線追跡仿真 y-lBaTE9  
    F-PQ`@ZNW  
    •首先選擇“光線追跡系統(tǒng)分析器”(Ray Tracing System Analyzer)作為仿真引擎。 >wf.C%  
    i2X%xYv ^  
    •點(diǎn)擊Go! Sq[LwJ  
    •獲得3D光線追跡結(jié)果。 Lb}