面對競爭激烈的背光模組市場，因?yàn)殛P(guān)鍵零件如光源、Film材的專利都掌握於少數(shù)美、日廠商中。所以臺灣廠商積極於提升導(dǎo)光板的提升光學(xué)效能與設(shè)計來進(jìn)降低對關(guān)鍵零件的依賴程度。 8{Wh4~|+  
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目前市場上已有將集光片改為逆向的設(shè)計除能降低Bef數(shù)量外更能藉由底部V CUT的結(jié)構(gòu)提升產(chǎn)品之光學(xué)效能。因?yàn)槟媪忡R片的應(yīng)用理論不同於以往的BEF正菱鏡構(gòu)造，Mitsubishi Rayon提供的逆菱鏡結(jié)構(gòu)本身就有3-4種不同的角度設(shè)計。 oJ0 #U  
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右圖為單面網(wǎng)點(diǎn)及雙層集光片模組：該光學(xué)系統(tǒng)由3mm厚之導(dǎo)光版，4面框架，底部主反射片，單支CCFL光源構(gòu)成。外加2片3M Bef2增光film材構(gòu)成 8{-bG8L> 5  
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SPEOS能夠輕易的將多種不同且大量的複雜微結(jié)構(gòu)建入不論是v形、梯形、圓柱形…的結(jié)構(gòu)都能靈活的定義，在工程師完成底部v cut 的設(shè)計與模擬之後。近一步將結(jié)果圖像化後轉(zhuǎn)入Auto CAD或其他的佈點(diǎn)軟體，進(jìn)行網(wǎng)點(diǎn)的設(shè)計應(yīng)用點(diǎn)狀結(jié)構(gòu)將光域分佈進(jìn)行均勻化設(shè)計。讓工程師能有修改及設(shè)變的方向達(dá)到快速進(jìn)行結(jié)構(gòu)的光學(xué)設(shè)計、模擬。並縮短產(chǎn)品開發(fā)流程與降低高輝度背光模組的成本的要求。 $0;Dk,  
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上圖為V cut +上層網(wǎng)點(diǎn)+單層逆菱鏡片該光學(xué)系統(tǒng)由3mm厚之導(dǎo)光版，4面框架，底部主反射片，單支CCFL光源構(gòu)成。外加1片逆菱鏡增光film材構(gòu)成。 1ZfhDtK(  
光場分佈比對：單面網(wǎng)點(diǎn)+雙層Bef 與vcut+網(wǎng)點(diǎn)+單層逆菱鏡片之光場比對。藍(lán)色為單面網(wǎng)點(diǎn)+雙層Bef，綠色為v cut+網(wǎng)點(diǎn)+單層逆菱鏡片。Vcut +上層網(wǎng)點(diǎn)+單層逆菱鏡片結(jié)構(gòu)之光場效能，較單面網(wǎng)點(diǎn)+2層bef增加20%。同時也不會造成可視角的縮小。 Zu^J X/um  
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不同系統(tǒng)之輝度luminance模擬結(jié)果比對。單面網(wǎng)點(diǎn)+雙層Bef輝度luminance模擬結(jié)果之中央輝度值。透過SPOE 的輝度(Luminance) 模擬功能可以明顯感受到中央輝度的提升，並可由網(wǎng)點(diǎn)設(shè)計的靈活度有效將亮區(qū)集中在中央，同時兼顧輝度提升與均勻性。輝度模擬的功能可以任意調(diào)整觀察點(diǎn)的位置來進(jìn)行觀察，或設(shè)定數(shù)個detector可以在一次模擬中獲得所有結(jié)果。 _ 3jY,*  
左圖為單面網(wǎng)點(diǎn)之結(jié)果、右圖逆菱鏡片之結(jié)果 |w`Q$ c  

寫的 很詳細(xì)啊

引用樓主zz1983于2007-08-09 16:31發(fā)表的 應(yīng)用SPEOS 2006比較逆菱鏡片配合V CUT與雙層Bef之效益 :
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支持！

不錯的試驗(yàn)