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fenxiangle ,xiexielohuz

關(guān)鍵在于重點(diǎn)采樣的設(shè)置。 x$E l7=.  
前提已經(jīng)設(shè)置好光機(jī)模型和光機(jī)零件的表面特性。 kH'Cx^=c6h  
步驟為： 7~&Y"&  
1.從焦面或探測器出發(fā)，倒追出得到系統(tǒng)的所有關(guān)鍵面。 c/u;v69r  
2.將所有關(guān)鍵面重點(diǎn)采樣目標(biāo)設(shè)置在直接看見它的鏡面。調(diào)整好合適的閾值，勾上重點(diǎn)采樣的光線追擊選項(xiàng)，開始追擊。 }|d:(*  
3.追擊后，分析到達(dá)焦面的雜光組成。保留3~5個主要雜光入侵途徑，其余刪去，可極大提高追擊效率，又不妨礙追擊準(zhǔn)確性。

很好很好，我堅(jiān)決支持。不管用什么分析軟件，方法還是一樣的。 <
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頂！�。�

我對nicai的軟件挺有興趣的

頂一下