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    [求助]有關(guān)tracepro求光學(xué)系統(tǒng)各表面光功率密度的問題 [復(fù)制鏈接]

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    只看樓主 倒序閱讀 樓主  發(fā)表于: 2008-03-26
    我想用tracepro求一個(gè)全反射光學(xué)系統(tǒng)各反射面的光功率密度 tIz<+T_  
    具體工具是grid trace w.4u=e >Z4  
    不過我發(fā)現(xiàn)追跡光線數(shù)目不同，最后的結(jié)果相差很大 $nUd\B$.=  
    應(yīng)該是追跡的光線數(shù)越多結(jié)果越準(zhǔn)確 N?MJ#lC F  
    可是追跡1.5百萬左右的光線的時(shí)候，電腦內(nèi)存就耗盡了（2g） OaD Alrm  
    請(qǐng)高手指教以下��！ D8r>a"gx  
    萬分感謝�。�
     
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