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    [求助]有關(guān)tracepro求光學(xué)系統(tǒng)各表面光功率密度的問題 [復(fù)制鏈接]

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    只看樓主 倒序閱讀 樓主  發(fā)表于: 2008-03-26
    我想用tracepro求一個(gè)全反射光學(xué)系統(tǒng)各反射面的光功率密度 V< W;[#"  
    具體工具是grid trace Z17b=x Jw  
    不過我發(fā)現(xiàn)追跡光線數(shù)目不同，最后的結(jié)果相差很大 %DYh<U4N  
    應(yīng)該是追跡的光線數(shù)越多結(jié)果越準(zhǔn)確 }!oEjcX'  
    可是追跡1.5百萬左右的光線的時(shí)候，電腦內(nèi)存就耗盡了（2g） ~x \uZ^:  
    請(qǐng)高手指教以下�。� Syy{ ^Ae}  
    萬分感謝��！
     
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