半導(dǎo)體發(fā)光二極管測試方法摘要：系統(tǒng)地介紹了與發(fā)光二極管測試有關(guān)的術(shù)語和定義,在此基礎(chǔ)上,詳細(xì)介紹了測試方法和測試裝置的要求。 rFL;'Cj@  
1 前 言
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　　半導(dǎo)體發(fā)光二極管是一種重要的光電子器件,它在科學(xué)研究和工農(nóng)業(yè)生產(chǎn)中均有非常廣泛的應(yīng)用.發(fā)光二極管雖小,但要準(zhǔn)確測量它的各項(xiàng)光和輻射參數(shù)并非一件易事.目前在世界范圍內(nèi)的測試比對還有較大的差異.鑒于此,CIE(國際照明委員會)TC2-34 小組對此進(jìn)行了研究,所提出的技術(shù)報(bào)告形成了CIE127-1997 文件. 1iF1GkLEq  
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　　中國光學(xué)光電子行業(yè)協(xié)會光電器件專業(yè)分會根據(jù)國內(nèi)及行業(yè)內(nèi)部的實(shí)際情況,初步制定了行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)"發(fā)光二極管測試方法",2002 年起在行業(yè)內(nèi)部試行.本文敘述了與發(fā)光二極管測試有關(guān)的術(shù)語和定義,在此基礎(chǔ)上,詳細(xì)介紹了測試方法和測試裝置的要求,以期收到拋磚引玉之效果. TuaBm1S{f  
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　　本文涉及的測試方法適用于紫外/可見光/紅外發(fā)光二極管及其組件,其芯片測試可以參照進(jìn)行。

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范圍內(nèi)的測試比對還有較大的差異.鑒于此,CIE(國際照明委員會)TC2-34 小組對此進(jìn)行了研究,所提出的技術(shù)報(bào)告形成了CIE127-1997 文件. amH..D7_>   }3WxZv]I}  
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