光學(xué)測量作為一種非接觸式測量方法，在某些方面與接觸式三坐標測量相比具有本質(zhì)上的優(yōu)勢。它不使用接觸式測針進行采點，而是利用了光的物理特性來進行測量，這樣就能夠完全避免測針補償帶來的潛在問題，也使被測物體表面不再受到測針接觸帶來的影響。而光學(xué)測頭的測量速度通常也遠遠高于觸發(fā)式測頭。首先，光學(xué)測頭的采點方式都是連續(xù)的，不需要進行測針歸位；而且在采點過程中，光學(xué)測頭也區(qū)別于觸發(fā)式測頭：觸發(fā)式測頭會因為接觸物體表面時速度過快而被認為發(fā)生了碰撞，而光學(xué)測頭則完全不會出現(xiàn)這個問題。 dIe-z7x  
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光學(xué)測頭的分類方法有很多，種類更是繁復(fù)。從測量原理上通�？梢苑譃楣草S測量和三角測量；從光源維度上可以分為點光源、線光源和面光源；從光源色譜上又可以分為單色光源和白光源。共軸測量中常見的方法有2種：其一是干涉法，它利用了光的波長特性，將一束光通過平面分光鏡（半透半反）分成兩束，一束由鏡面反射至參考平面，另一束則透射至被測物體表面，兩束光經(jīng)疊加后產(chǎn)生干涉條紋，干涉條紋的形式取決于物體的距離與物體表面的幾何特征；另一種是共焦法，從一個點光源發(fā)射的探測光通過透鏡聚焦到被測物體上，如果物體恰在焦點上，那么反射光通過原透鏡應(yīng)當匯聚回到光源，即所謂的共焦。在反射光的光路上加上了一塊半反半透鏡，將反射光折向帶有小孔的擋板，小孔位置相當于光源。光度計測量小孔處的反射光強度，強度最大時物體即位于透鏡焦點平面，這樣即可測得物點的位置。三角測量則利用光源、像點和物點之間的三角關(guān)系來求得物點的距離。以點光源為例：光源向物體發(fā)射一個光點，光點到達物體后經(jīng)過反射在傳感器上得到一個像點；光源、物點和像點形成了一定的三角關(guān)系，其中光源和傳感器上的像點位置是已知的，由此可以計算得出物點的位置所在。 /|Za[
 
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