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    [分享]AZO透明導(dǎo)電薄膜技術(shù) [復(fù)制鏈接]

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    只看樓主 倒序閱讀 樓主  發(fā)表于: 2011-01-26
    AZO透明導(dǎo)電薄膜技術(shù)近況發(fā)展與應(yīng)用   IP3E9z_ L  
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    近年來(lái)隨著液晶顯示器與太陽(yáng)能電池的發(fā)展,使得透明導(dǎo)電薄膜成為關(guān)鍵性材料之一。因此,如何降低透明導(dǎo)電薄膜材料成本與提高薄膜材料的性能為目前的首要目標(biāo)。所以在美國(guó)、歐洲與亞洲的研究學(xué)者都急欲發(fā)展出新一世代的透明導(dǎo)電薄膜材料。目前有幾種因素在加速驅(qū)動(dòng)這新世代透明導(dǎo)電薄膜的誕生。首先是由於目前所常用的ITO透明導(dǎo)電薄膜材料其主要是應(yīng)用在液晶顯示器與太陽(yáng)能電池上,但近年來(lái)液晶顯示器與太陽(yáng)能電池的需求大增。此外,觸控面板的成長(zhǎng)性亦相當(dāng)可觀。富士總研估計(jì)觸控面板2006年全球產(chǎn)值25.4億美金,2007年已達(dá)27億美金。此一新興電子產(chǎn)業(yè)的發(fā)展亦助長(zhǎng)了ITO薄膜的使用,因而造成銦的價(jià)格在過(guò)去的三年中大幅成長(zhǎng),目前銦的價(jià)錢已經(jīng)超過(guò)600USD/kg。因此開(kāi)發(fā)具透光、導(dǎo)電特性之「非銦」材料,或許是解決銦供給不足的方法之一。這些因素促使發(fā)展新型之透明導(dǎo)電薄膜技術(shù)與材料,成為近年來(lái)眾多研究學(xué)者所欲突破的目標(biāo)。 v^N`IJq  
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    AZO(氧化鋁鋅)透明導(dǎo)電薄膜特性 f>polxB%N  
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    氧化鋅(Zinc Oxide, ZnO)屬於N型Ⅱ-Ⅵ族半導(dǎo)體材料,其結(jié)構(gòu)為Wurzite hexagonal structure,屬於六方最密堆積。氧化鋅具有高熔點(diǎn)(1975℃)和極佳熱穩(wěn)定性,能溶於酸鹼,但不溶於水及酒精。氧化鋅光學(xué)能隙約為3.3  eV,大於可見(jiàn)光的能量,因此於可見(jiàn)光範(fàn)圍內(nèi)具有高穿透率。氧化鋅電阻值高,具有壓電效應(yīng),傳統(tǒng)應(yīng)用於壓電材料上,另外亦可應(yīng)用於表面聲波元件或是UV光發(fā)射器材料等。氧化鋅其電子傳導(dǎo)是由化學(xué)劑量比的偏差所產(chǎn)生的,由氧空缺(oxygen  vacancies)及間隙型鋅原子(interstitial znic)之淺層受體能階(shallow donor  levels)提供,氧化鋅的電阻較高,因此一般於透明導(dǎo)電薄膜的應(yīng)用上,則會(huì)將其摻雜Ш族元素(鋁、鎵、銦等),使其導(dǎo)電特性提高,同時(shí)也增加其高溫穩(wěn)定性。因此提供適當(dāng)量摻雜量的鋁,能夠使氧化鋅的導(dǎo)電性變佳。 ?o*I9[Z)  
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    由於AZO透明導(dǎo)電薄膜其價(jià)格較為低廉,且不具毒性。因此在發(fā)展上具相當(dāng)之優(yōu)異性。因此,沉積AZO薄膜技術(shù)的發(fā)展也相當(dāng)多元化,目前沉積此薄膜主要有下列幾種技術(shù): e6E?t[hEeS  
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    脈衝雷射蒸鍍(Pulsed Laser Deposition;PLD) s?rBE.g@}  
    0w=R_C)s  
    一般在鍍製ITO透明導(dǎo)電薄膜時(shí),其最佳之靶材比例為5-10 % 的SnO2摻雜至 In2O3。但在AZO薄膜材料中其最佳之鋁之摻雜比例<5%,因此就AZO薄膜而言,所摻雜金屬元素的含量控制是相當(dāng)重要的。PLD之實(shí)驗(yàn)技術(shù)可確保薄膜成分與靶材成分比例的一致性。因此,將靶材比例控制在2-5%(Al:ZnO)來(lái)成長(zhǎng)AZO薄膜,其薄膜的製程溫度為400℃,真空腔體的氧分壓為~10-3  Torr。 F;q#&  
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    不同鋁含量下,AZO薄膜之電阻率與載子濃度之關(guān)析圖 % 0T+t.  
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    (Ref: J. Crystal Growth 294 (2006) 427) 圖一顯示在不同鋁含量下,AZO薄膜的電阻率與載子濃度之關(guān)析圖。相較於只有ZnO時(shí),載子濃度隨著Al含量的加入而增加至少兩個(gè)級(jí)數(shù)以上。但隨著鋁的含量增加超過(guò)2%以上,其載子濃度之大小又隨之下降。在2 %鋁的摻雜中其載子濃度之最大值為8×1020  cm-3。但在電阻率之特性方面受到兩種機(jī)制之影響,載子濃度(摻雜離子濃度)與霍爾移動(dòng)率(氧的缺陷)。但此研究的氧分壓為一固定值,因此在霍爾移動(dòng)率對(duì)電阻率的影響應(yīng)該是有限的。在不同鋁含量時(shí),AZO薄膜之最低電阻率~6×10-4Ω-cm也出現(xiàn)在鋁含量2%時(shí)。超過(guò)2%的鋁含量時(shí),反而造成其電阻率的上升,其原因是過(guò)多的鋁造成其電子的傳遞被限制住了,亦或是過(guò)多的鋁含量造成AZO薄膜結(jié)構(gòu)的缺陷,而使的鋁的化學(xué)劑量比並非以氧化鋁的方式存在,因而造成此AZO薄膜電阻率的增加,而在光穿透率方面其AZO薄膜在可見(jiàn)光區(qū)約是~80%。 i-" p)2d=#  
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    RF磁控式濺鍍法 YA:nOvd@O  
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