根據
霍爾效應原理制成的
特斯拉計(
高斯計)在測量磁場中,有著廣泛的應用。這種儀器是由作為
傳感器的霍爾探頭及儀表整機兩部分組成。其中探頭內霍爾元件的尺寸、性能與封裝結構對磁場測量的準確度起著關鍵的作用。
cCV"(Oo[H| PvT8XSlTx! 霍爾效應特斯拉計對均勻、恒定磁場測量的準確度一般在5%—0.5%,高精度的測量準確度可以達到0.05%。但對磁體表面的非均勻磁場的測量就談不上準確度了。往往是不同的儀表,或同型號的儀表,不同的探頭,或同一支探頭的不同側面。去測量同一磁體表面,同一位置(應該說看上去是同一位置)的磁場時,顯示的結果大不一樣,誤差可以超過20%,甚至50%。
A1ebXXD) ::T<de7 造成上述差別的原因有兩點:其一,不同探頭內霍爾元件封裝的位置不同,或元件不在探頭兩側的中部。這些探頭在均勻磁場中,不會因位置上的改變而感受到磁場的改變,測量數據也不會因位置的不同而帶來誤差。當用不同的探頭去測磁體表面發(fā)散的、不均勻的磁場時,雖然表面看上去是放到了同一位置,而內部霍爾元件感受到的并不是同一位置的磁場。感受到的場值不同,測量結果當然不一樣。一般,對于徑向探頭,厚度越小,內部霍爾元件離表面越近,測量表面磁場顯示讀數越大,采用超薄探頭去測表面磁場時的讀數可以高于常規(guī)探頭20%以上(被測磁體尺寸越小,磁體表面曲率越大,表面磁場分布越不均勻,測量數據差別越大),但是無論多薄的探頭,其內部對磁場敏感的部分與磁體表面總有一個間距,不可能為零距離。所以說,不可能測到真正的表面磁場。只能說,使用的探頭越薄,讀數越能反映出磁體的表面磁場。
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