本文針對極大規(guī)模集成電路制造的工業(yè)化生產(chǎn)需求,開展面向 100nm 曝光節(jié)點的高數(shù)值孔徑(NA)、深紫外(DUV)投影光刻物鏡的光學設(shè)計與仿真。即綜合元件加工、檢測、鍍膜、光學材料、機械結(jié)構(gòu)、照明系統(tǒng)以及分辨率增強等各項技術(shù)要求和約束,完成 NA0.75,工作波長 193nm(ArF)投影光刻物鏡的光學設(shè)計。同時為最大限度地降低投影光刻物鏡的制造成本并確保的各項性能指標,研究投影光刻物鏡可能采取的像質(zhì)補償措施和方法。 ?_-5W9
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長春光機所 博士論文 vRkVPkZ6|
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