世界頂級高精度薄膜光學(xué)測量儀器FilmTek系列產(chǎn)品，廠商：美國SCI 公司 ]!N5jbA@  
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可測參數(shù)： \<} nn?~n  
1）單層或多層薄膜(可達50層)，厚度 （<1Å to 250 um) Ar==@777j  
2）反射率R和透射率T K^bn4Nr  
3）折射率n和吸收系數(shù)k k$UBZ,=iC  
4）能帶間隙 KB5{l%>  
5）表面粗糙度和損傷度 _*9Zp1r  
6）成份和結(jié)晶程度 *u}):8=&R  
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適用于高精度的薄膜量測，廣泛應(yīng)用于OLED, LCD, 半導(dǎo)體行業(yè)和光電行業(yè)等。 SxDE
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