摘要 眩光(Veiling Glare)是
成像光學系統(tǒng)設計領域經(jīng)常使用的術語。從技術
角度講，眩光是到達成像系統(tǒng)的
傳感器平面的
雜散光，并且它可能會導致成像系統(tǒng)性能的下降。
E I(e3 通常，為了得到準確的結果必須進行純非
序列分析。然而，對于很多成像
光學系統(tǒng)，對前向散射效應的直觀認識十分必要。這篇文章將要展示如何使用
ZEMAX內(nèi)置的工具對一些基本的眩光進行測量。這個分析需要花費幾分鐘，并且會給出十分有用的結果。
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