yzhuang:主要是精度及穩(wěn)定性好不好?
(2015-08-19 14:01) -(~OzRfYi
b~oQhU??" 原理上來說晶控儀控制精度、穩(wěn)定性及重復(fù)性均建立于對(duì)晶振片諧振頻率的實(shí)時(shí)準(zhǔn)確獲取上。
L F<{/c9, 此參數(shù)在說明書中有提及,并不遜色于所謂進(jìn)口儀器,實(shí)際比對(duì)也是如此。
=emcs% y@GqAN'DK[ 實(shí)際中以成膜結(jié)果最有說服力。
Vd%%lv{v 用戶用我司晶控儀做各類濾光片,可算作印證。也有替代多款進(jìn)口晶控儀。
WK$d<:" 如有興趣可以去我司網(wǎng)站,有典型用戶鏈接,也歡迎實(shí)地驗(yàn)證。
Q6qIx=c4 ) oypl+y 在厚度控制精度問題上,我司有發(fā)明專利一篇(申請(qǐng)了近2年,證書剛下來)。有興趣可以去查一下。