摘要： 本文通過計算預(yù)測光學(xué)性能的方法表征在光學(xué)系統(tǒng)組裝和外界環(huán)境因素影響下的光學(xué)系統(tǒng)靈敏度。該方法即通過調(diào)制傳遞函數(shù)來表征靜態(tài)機械應(yīng)力對光學(xué)物鏡性能的影響。采用光學(xué)干涉儀對經(jīng)過加工、 組裝且存在機械應(yīng)力的光學(xué)物鏡進行測試， 并比較實驗調(diào)制傳遞函數(shù)與計算模擬分析的調(diào)制傳遞函數(shù)。結(jié)果表明， 計算結(jié)果與實驗結(jié)果相符， 證實了本文方法的有效性。

學(xué)習(xí)學(xué)習(xí)，謝謝

新的突破方法！

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真假又分別把

靜態(tài)應(yīng)力作用下預(yù)測光學(xué)系統(tǒng)性能的計算方法

靜態(tài)應(yīng)力作用下預(yù)測光學(xué)系統(tǒng)

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