原子力顯微鏡（AFM）是一種非常敏感的技術，使我們能夠通過一個精確控制的尖端來在原子尺度上對材料進行成像和/或表征它們的物理性能。然而，傳統(tǒng)的AFM只提供與表面垂直（Z方向）的力學分量，而忽略平行于表面的分量（X和Y方向）。 BR?DW~7J j  
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    為了充分表征納米器件中使用的材料，在Z方向以外獲得具有方向性的參數(shù)——如電子，磁性，和彈性性能——的信息是非常有必要的。也就是說，在平行于材料表面的X和Y方向上測量這些參數(shù)也是有需要的。在原子尺度上測量這些材料參數(shù)的分布將增加我們對化學成分及反應、表面形貌、分子操縱以及納米機械操作的理解。 %