原子力顯微鏡（AFM）是一種非常敏感的技術(shù)，使我們能夠通過一個(gè)精確控制的尖端來在原子尺度上對(duì)材料進(jìn)行成像和/或表征它們的物理性能。然而，傳統(tǒng)的AFM只提供與表面垂直（Z方向）的力學(xué)分量，而忽略平行于表面的分量（X和Y方向）。 f84:hXo6  
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    為了充分表征納米器件中使用的材料，在Z方向以外獲得具有方向性的參數(shù)——如電子，磁性，和彈性性能——的信息是非常有必要的。也就是說，在平行于材料表面的X和Y方向上測(cè)量這些參數(shù)也是有需要的。在原子尺度上測(cè)量這些材料參數(shù)的分布將增加我們對(duì)化學(xué)成分及反應(yīng)、表面形貌、分子操縱以及納米機(jī)械操作的理解。 `/Nm 2K  
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    大阪大學(xué)的一個(gè)研究小組最近開發(fā)了一種基于原子力顯微鏡的方法，稱為“雙模式AFM”，以在亞原子尺度上在X、Y和Z方向（即三個(gè)維度）上獲取材料表面的信息。研究人員用鍺（Ge）表面作為襯底，測(cè)量了原子力顯微鏡針尖和材料表面在X、Y和Z方向之間的總作用力。他們的合作伙伴，斯洛伐克科學(xué)院物理研究所，進(jìn)行了針尖-表面相互作用的計(jì)算機(jī)模擬。雙模式原子力顯微鏡方法最近在《自然*物理》雜志上進(jìn)行了報(bào)道。 J