日本東京大學(xué)柴田直哉準(zhǔn)教授領(lǐng)導(dǎo)的研究小組，利用目前最先進(jìn)的掃描透射電子顯微鏡（STEM）和多分區(qū)檢測(cè)器，首次成功觀測(cè)到金原子內(nèi)部電場(chǎng)的分布情況——該電場(chǎng)分布在原子核與電子云之間不到0.1納米的區(qū)域內(nèi)。最新成果對(duì)觀察原子內(nèi)部精密結(jié)構(gòu)極為重要，使未來(lái)直接觀察原子間如何結(jié)合成為可能。 \0f{S40  
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掃描透射電子顯微鏡電子探針的大小決定對(duì)影像的分辨能力，目前最先進(jìn)鏡片技術(shù)的影像分辨力可達(dá)0.05納米以下。電子探針可以檢測(cè)出由原子產(chǎn)生的散射信號(hào)，因此可實(shí)現(xiàn)原子可視化。盡管到目前為止，電子顯微鏡可觀測(cè)到原子，但直接觀察原子內(nèi)部結(jié)構(gòu)（原子核及電子云）卻極為困難。 E