剪切散斑干涉技術(shù)是一種非接觸測量物體變形缺陷的光學無損測量方法，其通過計算物體變形前后的散斑圖中的相位獲取被測物的應(yīng)變?nèi)毕?span onclick="sendmsg('pw_ajax.php','action=relatetag&tagname=信息',this.id)" style="cursor:pointer;border-bottom: 1px solid #FA891B;" id="rlt_6">信息。近年來該技術(shù)在航空、航天等工業(yè)無損檢測領(lǐng)域得到了廣泛的應(yīng)用。本文從系統(tǒng)關(guān)鍵技術(shù)、散斑圖像處理技術(shù)兩方面介紹了剪切散斑干涉技術(shù)的研究進展，詳細論述了多種剪切裝置實現(xiàn)大視角測量、空間載波實現(xiàn)動態(tài)測量、多種圖像處理算法的一系列剪切散斑干涉技術(shù)；最后介紹了剪切散斑干涉技術(shù)的國內(nèi)外應(yīng)用進展，展望了剪切散斑干涉技術(shù)在動態(tài)測量、光滑表面測量及定量反算形變量等方面的發(fā)展趨勢。
