合肥工業(yè)大學科研人員在光學測量領域首次提出的一種分析方法，通過對高階標定模型中各組成項對重構結果重要性分析，在保證精度的前提下，實現了高階標定模型的計算效率和穩(wěn)定性的大幅提升。日前，成果被國際著名期刊《測量科學與技術》評選為年度亮點文章。 {'tfU  
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高精度光學三維掃描是目前光學測量領域的研究熱點之一。其中，條紋投影掃描測量技術憑借非接觸式測量、測量速度快以及測量精度高等優(yōu)點，廣泛應用于逆向工程、文物保護等復雜曲面幾何參數的精密測量領域。然而，由于條紋投影掃描測量技術需要通過高階模型進行標定，在測量中獲取的各項數據在高階模型中標定較為困難，從而影響了其測量結果穩(wěn)定性。 \OtreYi  
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針對這一問題，該校儀器科學與光電工程學院于連棟教授科研團隊，在標定模型優(yōu)化、自適應有效點云識別以及相位誤差精確補償等關鍵問題提出了創(chuàng)新性的解決辦法，從而獲取高精度的三維輪廓點云。同時，該團隊首次提出一種確定高階標定模型中各組成項對重構結果重要性的分析方法，可在測量過程中識別并剔除對重構結果影響微小的組成項，通過優(yōu)化高階標定模型，在保證精度的前提下，提升了高階標定模型的計算效率和穩(wěn)定性。 lUB?eQuN_  
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