| 竹林清風(fēng)ly |
2019-10-26 15:24 |
光學(xué)計(jì)量學(xué)的條紋圖案分析_理論，算法和應(yīng)用
光學(xué)計(jì)量學(xué)的條紋圖案分析_理論，算法和應(yīng)用 |Ow$n
本書(shū)的主要目的是介紹應(yīng)用于光學(xué)計(jì)量學(xué)的現(xiàn)代條紋圖形分析背后的基本理論原理。 除此之外，對(duì)于實(shí)驗(yàn)人員，我們以現(xiàn)成的形式介紹了用于從單個(gè)或多個(gè)條紋圖案中恢復(fù)調(diào)制相位的最常用算法。 r}@< K
本書(shū)涉及通常在光學(xué)計(jì)量技術(shù)中遇到的條紋圖案的相位解調(diào)，例如光學(xué)干涉術(shù)，陰影紋，條紋投影，光彈性，莫爾干涉，莫爾反射法，全息干涉，剪切干涉，數(shù)字全息術(shù) ，散斑干涉和角膜地形圖。 LW?2}`+
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Fringe Pattern Analysis for Optical Metrology_ Theory, Algorithms, and Applications '%Dg{ zL
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