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2020-09-24 09:28 |
輪廓掃描干涉測量儀與法布里-珀羅標(biāo)準(zhǔn)具
干涉測量作為最重要的光學(xué)測量技術(shù)之一已在各領(lǐng)域得到廣泛應(yīng)用。我們將介紹兩個示例，利用輪廓掃描干涉儀測量表面形貌和利用Fabry-Pérot標(biāo)準(zhǔn)具實現(xiàn)光譜測量。得益于非序列擴(kuò)展功能，這兩個應(yīng)用所采用的系統(tǒng)在VirtualLab中可以輕松地實現(xiàn)設(shè)置。不僅可以清晰地對其工作原理進(jìn)行描述及可視化，利用非序列場追跡技術(shù)更能夠快速且精確地對這類系統(tǒng)進(jìn)行分析。 Ey)ey-'\
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輪廓掃描干涉測量儀 F *1w8+
利用低相干氙燈光源，邁克爾遜干涉儀可以精確掃描給定樣品的表面輪廓。 kS4YxtvB
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