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2021-04-23 11:06 |
干涉條紋研究
干涉測量是用于精確測量中最廣泛應(yīng)用的技術(shù)之一。通過觀察和研究條紋圖案,可以判斷表面形狀質(zhì)量或關(guān)于光譜帶寬的儀表信息。利用VirtualLab Fusion中非序列場追跡技術(shù),可以輕松地設(shè)置和分析光學(xué)干涉儀。在這里提出兩個(gè)經(jīng)典的基于邁克爾遜干涉儀的例子:一個(gè)高質(zhì)量相干激光光源,另一個(gè)寬帶白光光源。 |8k^jq N`N=}&v ] 基于激光的邁克爾遜干涉儀 F+R1}5-3cl 8,+T[S d@*dbECG 借助VirtualLab Fusion中非序列追跡技術(shù)建立了該邁克爾遜干涉儀,并展示了不同配置中的干涉條紋。 AZNo%!)o hr'?#K 白光邁克爾遜干涉儀 t W n@bkZ/G '#j6ZC/? 模擬使用氙氣燈作為光源的邁克爾遜干涉儀,充分考慮了光源的光譜特性(有限的相干長度)。 tZ@&di:-F QQ:2987619807 oui0:Vy<
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