| infotek | 2022-03-07 09:16 |
雙通道EDI照度頻閃儀 FD-SIT-LS-202-b新國際標(biāo)準(zhǔn)<CIE S 02 6/E:2018 CIE System for Metrology of Optical Radiation for ipRGC-Influenced Responses to Light>給出了光譜影響的量化方法，采用視黑素等效日光(D65)照度Melanopic equivalent daylight (D65)illuminance, Melanopic EDI (lx)表示。  功能特性： 頻閃/波動(dòng)深度 明視覺照度（測試角度可設(shè)置） 非視覺照度（測試角度可設(shè)置）  頻閃（波動(dòng)深度） 頻閃或閃爍在最近幾年逐漸被業(yè)界重視和理解，得益于多種專業(yè)儀器的開發(fā)，可以從數(shù)據(jù)上具體分析閃爍對視覺或健康的影響。頻閃的危害盡管存在爭議，也有不同的標(biāo)準(zhǔn)，不同時(shí)期，不同機(jī)構(gòu)提出了不同的評價(jià)方法，目前大家比較關(guān)注的是頻閃波動(dòng)深度頻閃頻率(Par 1789)、SVM和Pst(CIE)，波動(dòng)深度如右下圖是一個(gè)100Hz的頻閃波形圖：峰值為Max，谷值為Min， 波動(dòng)深度=(Max-Min)/(Max+min) *100% 波動(dòng)深度是本機(jī)測量的主要指標(biāo)，下圖非常典型的頻閃波動(dòng)波形，最后一欄評價(jià)頻閃的嚴(yán)重程度：本例為比較嚴(yán)重(8.2)。 其他參數(shù)說明： 頻閃指數(shù)：波動(dòng)圖超出平均值的面積之和與總面積之比； 頻閃頻率：頻閃的頻率，當(dāng)直流或接近直流時(shí)，頻率為0Hz; 掃描：實(shí)際是掃描頻率，掃描頻率范圍:5-200KHz； 通道：信號取樣通道，C0-C7，照度越高通道越小，采樣時(shí)間常數(shù)越小，通道小適于高頻測量，通道大高頻測量誤差會變大。 光譜 | |